Término solicitado: KEMPE, VOLKER^RED./(22)
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| Tipo de Docum.: | congreso |
| Título: | Proceedings |
| Autor: | Blanton, Shawn. ed.; Bosseboeuf, Alain. ed.; Courtois, Bernadr. ed.; Karam, Jean Michel. ed.; Kempe, Volker. ed.; Markus, Karen. ed. |
| Reunión: | Design, test, integration and packaging of MENS/MOEMS 2006; DTIP of MENS & MOEMS, Lago Maggiore. IT, 2006 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 2006. |
| Pág./Vol.: | 391p. |
| Descriptores: | Microsistemas; Diseño; Embalaje; Envases; Fabricación; Métodos de ensayo; Control de la calidad; Materiales; Materiales alternativos; Dispositivos de seguridad; Circuitos integrados híbridos; Dispositivos; Dispositivos electrónicos; Óxido de aluminio; Microelectrónica; Optoelectrónica; Generadores eléctricos |
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| Ubicación: | Electrónica/3 |
| Disponibilidad: | INTI-Electrónica |
| Tipo de Docum.: | congreso |
| Título: | Proceedings |
| Autor: | Blanton, Shawn. ed.; Bosseboeuf, Alain. ed.; Courtois, Bernadr. ed.; Karam, Jean Michel. ed.; Kempe, Volker. ed.; Markus, Karen. ed. |
| Reunión: | Design, test, integration and packaging of MENS/MOEMS 2006; DTIP of MENS & MOEMS, Lago Maggiore. IT, 2006 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 2006. |
| Pág./Vol.: | 391p. |
| Descriptores: | Microsistemas; Diseño; Embalaje; Envases; Fabricación; Métodos de ensayo; Control de calidad; Materiales; Materiales alternativos; Dispositivos de seguridad; Circuitos integrados híbridos; Dispositivos; Dispositivos electrónicos; Óxido de aluminio; Microelectrónica; Optoelectrónica; Generadores eléctricos |
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| Ubicación: | Electrónica/3 |
| Disponibilidad: | INTI-Electrónica |
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